继电器时间参数的获取方法

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继电器时间参数的获取方法

航联科技 2020-09-30 289 0




继电器时间参数的检.测主要通过电子秒表和光示波器等模拟测试方法获得。传统的检.测方法速度慢,误差大,测量不准确。随着计算机技术的发展,越来越多的继电器检.测设备使用微处理器

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在文献中提到了时间参数检.测电路。电路的主要组成部分是单片机。其检.测原理是:当继电器触点闭合时,对应于MCU的输入通道电压为5V,端口为“ 1”。断开继电器时,相应的电压为0V,I / O端口为“ 0”。当将激励电压施加到继电器时,微控制器以足够小的采样周期读取单片机的相应数字I / O端口。经过数据处理后,可以计算出相应的时间参数。但是,当继电器连接到直流负载时,由于继电器在连接到直流负载时交流电压是交变的,因此当断开继电器连接时,MCU的端口电压的瞬时值可能很小或接近于零。

因此,当连接触点的电路是交流电路时,如果使用触点间电压的瞬时值来判断触点的闭合和断开状态,则误差会很大,因此准确值无法获得。文献中提出了一种继电器时间参数的计算机测试方法。它使用自行开发的采集板,该采集板主要由单片机及其外围电路组成。该方法可以检.测继电器动作时间,动作弹跳时间,释放时间,释放弹跳时间和其他时间参数。

单片机与线圈驱动电路相连,以控制励磁线圈的开和关,在继电器闭合或断开时收集触点的状态,并计算其时间参数。检.测原理是:继电器线圈通电后,经过一定的动作时间,触点可以闭合。因此,单片机首先收集数据0,然后稳定地闭合触点,然后闭合1。在此过程中,触点将弹起,并最终达到稳定状态。在此期间,单片机收集的数据为0或1。将单片机的采样周期设置为0.01ms,将单片机收集的数据的地址值乘以采样周期。所需的动作时间。





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